Cómo comprobar rápida y eficazmente algunos tipos de transistores especiales

Tipo: Artículo / Tutorial

Formato: PDF

Autor: Javier Hernández Rivera

Web: www.electronicayservicio.com

Descripción: Artículo publicado en la revista Electrónica y Servicio que explica paso a paso, cómo probar el estado de transistores de conmutación, MOSFETs, DIACs y otros semiconductores.

Introducción

Cuando existen problemas en este tipo de componentes electrónicos, normalmente se reemplazan sin haber verificado su funcionamiento. El problema es que a veces, tras haber cambiado uno de ellos, se descubre que estaba bien porque la falla no desaparece; esto representa una perdida de tiempo y dinero en la reparación. En este artículo explicaremos cómo se prueban algunos componentes de uso frecuente en aparatos electrónicos.

Para que usted esté más seguro de los valores obtenidos en las mediciones, hemos sugerido que las pruebas se hagan tanto con multímetro digital como con multímetro analógico. Es una manera de aprovechar las ventajas de este último; por ejemplo, gracias a que su escala de resistencias es más alta que la del aparato digital, se pueden detectar algunas fugas en semiconductores.

Los transistores de conmutación o "digitales" cuentan con unas resistencias que se encuentran conectadas dentro del propio encapsulado del transistor. Físicamente, suelen ser de menor tamaño que los transistores normales de unión que ya conocemos; y pueden ser de tipo NPN o PNP.

* También te pueden interesar:
- Probador de usos múltiples
- Cómo probar transistores con multímetro
- Probador de transistores MOS-FET
 

Resumen del contenido

- Prueba de transistores de conmutación o "digitales".
- Prueba inicial. - Prueba dinámica.
- Prueba de transistores de tipo MOSFET
- Prueba dinámica de MOSFET.
- Diodos moduladores o Damper.
- Prueba de diodos de avalancha.
- Prueba de DIACs.
- Uso del probador de usos múltiples o multiprobador.

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